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HY-M-JX100漏磁探伤教学仪器

HY-M-JX100漏磁探伤教学仪器

基本信息
没有此类产品
性能特点
  一、缺陷漏磁传感器原理
  缺陷漏磁检测传感器是基于半导体材料器件(如霍尔元件、磁阻元件及磁敏管等)的磁电转换功能原理的,它将被磁化体上缺陷处的泄漏磁场量转换为电压量输出,从而完成缺陷的检测。
 
 
  二、传感器主体结构
  缺陷漏磁检测传感器主要由磁化器、检测探靴、外罩及快接头构成。检测探靴由阵列霍尔元件构成,将检测的磁场变化信息转换为变化的电压信号输出。缺陷漏磁检测传感器属于基于磁敏感应器件的结构型电磁检测传感器。
标准配置
产品参数
应用案例
操作视频
  整个检测装置由缺陷检测传感器、USB数据采集卡、数据分析软件、带缺陷检测样件、支架及数据线构成。
 
 
  其中,数据采集卡的单通道采样率:3.3k S/s ,精度12位; 7个通道、Hall输出:0-5v。
  检测样件上制作有人工标注缺陷,如横向刻槽及孔;检测样件由支架悬空布置以便缺陷检测传感器的样件扫描。
  数据分析软件的处理软件系统具有整屏浏览、分屏浏览、人工评估和自动评估等功能;检测结果可以直接生成 Word文档格式的检测报告。软件与各种版本的计算机 Windows操作系统完全兼容,适合于使用者的惯性操作。
  1、横向裂纹为:0.5(宽)*1(深)*15(长度)。
  2、孔洞灵敏度为:φ3.2通孔。
  3、样管为φ20钢管,表面抛光镀铬。
 
样管